| 序号 | HS编码 | 商品名称 | 英文名称 | 商品描述 | 退税率 | 计量单位 | 海关监管 | 状态 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 90311000.10 | 陀螺动态平衡测试仪 | [Testers for gyro dynamic balance] | 陀螺动态平衡测试仪 | 13.00 % | 台/千克 | 3 |
正常
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| 2 | 90311000.90 | 其他机械零件平衡试验机 | [Other machines for balancing mechanical parts] | 其他机械零件平衡试验机 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 3 | 90312000.10 | 陀螺/马达运转试验台 | [Gyro run-in/motor test stations] | 陀螺/马达运转试验台 | 13.00 % | 台/千克 | 3 |
正常
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| 4 | 90312000.20 | 加速度表测试台 | [Accelerometer test stations] | 加速度表测试台 | 13.00 % | 台/千克 | 3 |
正常
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| 5 | 90312000.30 | 试车台 | [Test benches (which have the capacity to handle solid or liquid propellant rocket motors of more than 90 kN of thrust, or which are capable of simultaneously measuring the three axial thrust components)] | 试车台 | 13.00 % | 台/千克 | 3 |
正常
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| 6 | 90312000.40 | 惯性平台测试台 | [Test tables for inertial platform (including high-accuracy centrifuges and rotating table)] | 惯性平台测试台 | 13.00 % | 台/千克 | 3 |
正常
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| 7 | 90312000.90 | 其他试验台 | [Other test benches] | 其他试验台 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 8 | 90314100.00 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | [Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices] | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 9 | 90318010.00 | 光纤通信及光纤性能测试仪 | [Optical telecommunication and optical fibre performance testing instruments] | 光纤通信及光纤性能测试仪 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 10 | 90318020.00 | 坐标测量仪 | [Coordinate measuring machine] | 坐标测量仪 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 11 | 90318031.00 | 超声波探伤检测仪 | [Apparatus for ultrasonic examinations] | 超声波探伤检测仪 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 12 | 90318032.00 | 磁粉探伤检测仪 | [Apparatus for magnetic examinations] | 磁粉探伤检测仪 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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| 13 | 90318033.00 | 涡流探伤检测仪 | [Apparatus for eddy examinations] | 涡流探伤检测仪 | 13.00 % | 台/千克 |
正常
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