本章其他品目未列名的测量或检验仪器、器具及机器；轮廓投影仪

	机械零件平衡试验机

	试验台

	制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检测光掩模或光栅用

	光纤通信及光纤性能测试仪

	坐标测量仪

	超声波探伤检测仪

	磁粉探伤检测仪

	涡流探伤检测仪